U periodu od 11. do 14. marta 2025. godine održan je Međunarodni kongres metrologa CIM 2025, u Lionu, Francuska.

Na ovom kongresu prezentovan je poster čiji su autori Boban Zarkov, metrolog za optičke veličine u Direkciji za mere i dragocene metale i dr Veljko Zarubica, tehnički direktor akreditovane laboratorije Analysis d.o.o. Ovaj poster prikazuje novu vrstu materijala koji se može koristiti kao sertifikovani referentni materijal za etaloniranje analitičkih instrumenata, spektrofotometara u UV oblasti, kao i nano drop spektrofotometara. Izvršena je karakterizacija materijala, kratkoročna i dugoročna stabilnost, homogenost, temperaturna zavisnost, kao i budžet merne nesigurnosti.

U narednim mesecima planirano je publikovanje ovog rada u naučnim časopisima.

Prilog - poster